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            產品詳情
            • 產品名稱:Model 3710 太陽能芯片檢測系統

            • 產品型號:Model 3710
            • 產品廠商:chroma(致茂)
            • 產品文檔:
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            簡單介紹:
            主 要 特 色: 適用于 5 吋及 6 吋太陽能芯片 高產能及 0.2% 以下之低破片率 2D 幾何計算檢測 芯片表面瑕疵檢測 微裂隙檢測 鋸痕檢測 Resistively/Thickness 測試 壽命測試 簡易的疑難解答程序 進料 : 堆棧盒 / 卡式盒 分類 : 堆棧盒 / 卡式盒
            詳情介紹:
            主 要 特 色:
            適用于 5 吋及 6 吋太陽能芯片
            高產能及 0.2% 以下之低破片率
            2D 幾何計算檢測
            芯片表面瑕疵檢測
            微裂隙檢測
            鋸痕檢測
            Resistively/Thickness 測試
            壽命測試
            簡易的疑難解答程序
            進料 : 堆棧盒 / 卡式盒
            分類 : 堆棧盒 / 卡式盒

            Chroma 3710整合了2D 幾何計算、表面瑕疵、微裂隙檢查、鋸痕檢查等光學檢測功能,并依客戶需求制定Thickness檢查及Lifetime測試,是一套可針對使用者全方位客制化的太陽能晶片檢測系統。具有高產能及低破片率的優點,非常適合用于進料端,晶片可依使用者定義自動分類到堆疊盒或卡式盒內,獨特的自動轉換技術可以大量節省人工轉換所需的系統待轉時間,并應用高科技化的技術,確保太陽能晶片輸送系統中重要關鍵之一的低破片率
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